当前所在位置: 首页 > 产品首页 >检测、测量 、自动化、工业IT >计量及测试设备 >3D触摸探针 >Hexagon Metrology高性能三维扫描探测系统LSP-X1
产品介绍
新型的LSP-X1 扫描测头，既能够提供高精度测头的精密计量工具，又能够和TESASTAR-m 自动分度测座完美匹配。点到点和连续扫描两种模式都能够全面兼容，是中等尺寸的楞边复杂型和曲面复杂型工件的理想检测方案。LSP-X1具有两种吸盘，并且可以支持长达220mm 以内的各种探针。吸盘的自动更换可以通过TESASTAR-r 自动更换架实现，也可以通过专门的支架仅仅更换探针。这种磁吸测头系统能够快速和高重复性的完成更换。
规格参数
- 超长探针
允许探测工件内部的深孔等特征。包括自动重量平衡系统。
- 自动探针更换功能
在测量过程中执行自动探针更换，而不需要重新校准。探针的磁力吸盘保证了快速而精确的更换。
- 具备碰撞保护功能
在发生误碰撞的情况下保护测座。使得测量系统的工作时间达到最大化，并降低了拥有成本。
接触工件表面时，测头会自动沿着工件表面的法矢量进行测量。通过线性可变微分传感器(LVDT)探测偏差，即使使用长的加长杆，也可以对探针的弯曲进行准确补偿。这一特性减少了余弦误差，确保了更高的测量精度和效率，这对检测复杂几何体如齿轮、转子和叶片等是至关重要的。
津公网安备12010102000946号
