400-9619-005

当前所在位置: 首页 > 产品首页 >检测、测量 、自动化、工业IT >位置检测 >激光位移/距离传感器 >SICK短量程激光测距传感器OD Hi

SICK短量程激光测距传感器OD Hi

SICK OD Hi 短量程激光测距传感器为需要高精度测量的应用提供了准确的距离测量。其高精度特别适合生产过程的质量控制、分类和检查任务。目标应用包括测量尺寸、位置、外形和加工误差。能够提高产品质量,...
  • 品牌:SICK
  • 型号:OD Hi
  • 阅读次数:8749

产品介绍

SICK OD Hi 短量程激光测距传感器为需要高精度测量的应用提供了准确的距离测量。其高精度特别适合生产过程的质量控制、分类和检查任务。目标应用包括测量尺寸、位置、外形和加工误差。能够提高产品质量,同时降低时间和材料成本。

技术参数

  • 多种测量量程:从26mm…34mm,至100mm…400mm
  • CMOS接收元件保证对各种表面的精确测量
  • 高可见度LCD显示
  • 使用激光技术可稳定测量小物体
  • 紧凑、坚固、独立使用

规格参数

  • 多种测量量程:从26mm…34mm,至100mm…400mm
  • CMOS接收元件保证对各种表面的精确测量
  • 高可见度LCD显示
  • 使用激光技术可稳定测量小物体
  • 紧凑、坚固、独立使用

返回首页 | 产品中心 | 客户中心 | 人才中心 | 合作平台 | 联系方式


友情链接赛力斯

Copyright© 2013-2024 天津西纳智能科技有限公司 版权所有
电话:400-9619-005
传真:400-9619-005
联系人:余子豪 400-9619-005
邮箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平区南京路235号河川大厦A座22D

a

津公网安备12010102000946号 津ICP备13001985号-1

扫描微信二维码关注我们

QQ联系
加企业微信咨询