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KARL DEUTSCH涂层测厚仪(带探头)LEPTOSKOP 2042

  • 品牌:KARL DEUTSCH
  • 型号:LEPTOSKOP 2042
  • 阅读次数:6267

产品介绍

大型图形显示48毫米×24毫米,带照明

校准选项:

出厂前校准,立刻准备测量

校准未知涂层

零点校准

未涂覆基材之一,多箔校准

涂层材料校准

校准数据可以单独存储在单独的校准文件,并可以重新装载

可选的显示模式,以获得适应测量任务

输入和监控限制

Windows下读数存储,方便文件管理

可用的PC软件EasyExport和ICOM

多达999个读数统计评估

最小值,最大值,平均值,读数,标准差,监测极限

局部厚度和平均涂层厚度(DINEN ISO2808)

在线统计,所有统计值一目了然

产品可配KARL DEUTSCH探头

KARL DEUTSCH(卡尔德意志)自1949公司成立以来,一直致力于研发和生产无损检测仪器和设备,是个传统的家族企业。产品包括便携式仪器,台式仪器, 探头和渗透裂纹检测剂。典型的检测任务是超声波焊缝检测,铸件缺陷检验,用磁粉或渗透方法对锻件裂纹检测,轨道交通和航空安全系统中的部件检测,以及壁厚和涂层厚度测量。

规格参数

串行接口:将数据传输到RS232或USB

电源:通过电池,USB或电源装置

测量范围:0 -20000微米(取决于探头)

测量速率:高达每秒2读数

存储:最大9999,读数高达140文件

测量不确定度(校准后)

涂层厚度<100微米:读数+/-1微米的1%

涂层厚度>100微米:读数+/-1微米的1..3%

涂层厚度>1000微米:读数+/-10微米的3..5%

涂层厚度> 10000微米:读数+/- 100微米的5%


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