QWED谐振器SPRD

SPDR使用特定的谐振模式。该模式具有取决于谐振器尺寸的特定谐振频率，并且在一定程度上也取决于测量样品的电学性质。因此，每个谐振器被设计用于特定的额定频率，并且实际测量以接近标称频率的频率进行。SPDR的基本线路的标称频率为：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz。在1.1 GHz和15 GHz之间的其他频率的谐振器可以在特殊要求下制造。

测量空谐振器和谐振器的谐振频率和Q因子。提供专用软件用于介电常数和介电损耗角正切测定。可以使用Agilent Technologies配备85071E材料测量软件（选件300）的PNA / ENA系列网络分析仪之一，用户只需将QWED的专用应用程序上传到网络分析仪中，并直接在其显示屏上获得结果。使用不同网络分析仪的用户需要在标准PC计算机或网络分析仪（如果配备Windows操作系统）上安装介质特性计算软件。

薄层电阻测量范围：4kΩ÷10MΩ

产地：波兰

标称频率：1.1 GHz，1.9 GHz，2.45 GHz，5 GHz，10 GHz

表面材质：铝

结果显示：显示屏

薄层电阻测量范围：4kΩ...10MΩ

薄层电阻测量次数：2

薄膜衬底：半绝缘

测量数值：层状介电材料的复介电常数

可定制：是

温度范围：-270℃至110℃

SPDR用于测量包括LTCC衬底在内的层状电介质材料的复介电常数，也用于沉积在低损耗介质衬底上的薄铁电薄膜。此外，SPDR可用于测量各种导电材料（如商用电阻层，薄导电聚合物膜或高电阻率半导体）的表面电阻和电导率。这种测量仅适用于Rs> 5kΩ/平方的大表面电阻采样。样品的小尺寸取决于谐振器的工作频率。SPDR适合在-270℃至110℃的温度下工作。