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LIST-MAGNETIK超声波壁厚测量仪PX-7DL

超声波壁厚测量用于测量金属、玻璃和均质塑料的厚度,并确定材料缺陷,如腐蚀和夹杂物。超声波测量的优点是...

产品介绍

超声波壁厚测量用于测量金属、玻璃和均质塑料的厚度,并确定材料缺陷,如腐蚀和夹杂物。超声波测量的优点是被测物体只需从一侧接近即可。用于许多工业领域,包括汽车、飞机、机器和工具制造,以及在确定管道和储罐的剩余厚度时进行腐蚀测试的质量保证。

超声波壁厚测量仪PX-7DL是一种用于非常准确地测量薄材料的特殊设备。该设备仅适用于具有两种测量功能的单晶探头。回波法用于测量非常薄的物体,测量中不包括涂层。没有必要刮掉或去除涂层。脉冲回波方法用于较厚的材料。在自动模式下,设备会自动切换到正确的材料厚度测量功能。但是,PX-7DL 不适合查找材料缺陷和夹杂物。

技术参数

  • 测量范围:取决于材料/探头 0.15 - 25 mm
  • 声速范围:1250 - 10000 米/秒
  • 分辨率:0.001 毫米
  • 显示:4½ 位 LCD 显示屏,可照明
  • 测量:每秒4个值,扫描模式下每秒8个值
  • 测量值记忆:多达 1000 个测量值
  • 差分模式:显示与默认值的偏差
  • 报警功能:如果未达到指定的min值,则会发出带有红色/绿色 LED 显示的警报音
  • 接口:RS232 接口,用于将测量数据传输到打印机或 PC
  • 温度范围:-20° 至 50°C
  • 电源:2x 1.5V AA 米尼翁
  • 工作时间:约 130 小时
  • 尺寸:120 x 65 x 32 毫米
  • 重量:295 克(含电池)

 


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