SIOS激光干涉探头LM

LM 系列激光干涉测量探头是长度测量设备。使用这些探头，可以在 20 或 50 毫米的测量范围内以纳米精度进行触觉测量。 由于其尺寸和 Ø 8h6 的夹持柄直径，测量探头与传统测量系统兼容。集成的激光干涉仪将电机驱动的测量套筒的测量运动转换为干涉信号。该光学测量信号通过光缆传输到光电供电和评估单元，并作为长度值输出。稳定的 He-Ne 激光器（其光通过光纤馈送到激光干涉仪）以及对环境对激光波长的影响的校正是高测量精度的基础。操作和显示通过单独的显示器或通过带有软件的 PC 进行。

通过激光干涉测量方法获得高精度和准确度

高频稳定性氦氖激光器作为材料测量

在整个测量范围内恒定的测量力

在整个测量范围内具有良好的线性度

探头的光纤耦合

抗电磁场