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DICON EXFO光器件测试仪CT440

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,在以任何速度进行扫描时波长精度都可以达到±5 pm...

产品介绍

CT400将高速电子设备和光干涉测量技术结合起来。四个集成的检测器使您能够同时测量四个通道,单次激光器扫描的动态范围为65 dB。此外,在以任何速度进行扫描时波长精度都可以达到±5 pm,因此不需要在测量速度和精度间进行取舍。CT440集成了一个监测光电探测器,在扫描期间对来自激光光源的任何功率波动进行补偿。可以不考虑激光器扫描速度,在1和250 pm之间选择采样分辨率。除了±5 pm的波长精度外,内置的波长计可减轻对可调谐激光光源(TLS)的要求,从而在不影响测量性能的情况下降低系统成本。CT440在与TLS和PC连接时,可提供执行准确测量所需的各种功能。

性能特点

  • 快速测量变换函数(插损)
  • 波长范围:1240-1680 nm(SMF型号)
  • PM和PDL选件
  • 波长分辨率:1至250 pm
  • 波长精度:±5 pm
  • 动态范围:单次扫描时65 dB
  • 至多可结合4个可调谐激光器(SMF型号)
  • 配备四个内部检测器,可通过同步进行扩展
  • 19英寸机架支持1U版本

技术参数

  • 工作温度:15 °C至30 °C(59 °F至86 °F)
  • 存储温度:–10 °C至60 °C(14 °F至140 °F)
  • 相对湿度:<80 %(非冷凝)
  • 电源:AC:100 V至240 V(50 Hz至60 Hz)
  • 尺寸(W x H x D):440 mm x 50 mm x 375 mm
  • 重量:3.5 kg至3.9 kg(7.7 lb至8.6 lb)

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