x
400-961-9005

CIRRIS线束测试仪CR

在生成时进行测试的引导式程序集。将多个 Cirris CR 测试仪连接在一起,用于具有数千个点的复杂组件。该系统支持引导式装配,包括屏幕上的连接器图像,包括正确腔体位置、装配板上的引导 LED 以及即...

产品介绍

在生成时进行测试的引导式程序集。将多个 Cirris CR 测试仪连接在一起,用于具有数千个点的复杂组件。该系统支持引导式装配,包括屏幕上的连接器图像,包括正确腔体位置、装配板上的引导 LED 以及即时图形和声音反馈,以便在错误发生时捕获错误。

性能特点

  • 多达 32,000 个测试点(256 点/盒)
  • 基本单元重量小于 3 磅
  • “菊花链”架构减少了接口布线的长度和复杂性
  • 用户可选的通过/失败电阻阈值范围为 0.1 Ω 至 500 kΩ。
  • 多种测试模式

技术参数

  • 测试点
  • 256分;可扩展到 32,000 点,增量为 256 点。(距基本设备最远距离:200 英尺。
  • 低压测试
  • 2 线
  • 电压:最大 10 V
  • 电流:1.6 μA 至 6 mA
  • 线电阻:0.1 Ω 至 100 Ω ±3% ±0.1 Ω
  • 4 线
  • 电压:最大 10 V
  • 电流:1.6 μA 至 6 mA
  • 线电阻:0.005 Ω 至 80 Ω ±2% ±0.005 Ω

返回首页 | 产品中心 | 客户中心 | 人才中心 | 合作平台 | 联系方式

Copyright© 2013-2024 天津西纳智能科技有限公司 版权所有
电话:400-961-9005
传真:400-961-9005
联系人:余子豪 400-9619-005
邮箱:sales@e-xina.com
地址:天津市和平区南京路235号河川大厦A座22D

a

津公网安备12010102000946号 津ICP备13001985号-1

扫描微信二维码关注我们

QQ联系
加企业微信咨询