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Nicomp 动态光散射 (DLS) 系统可测量 0.3 nm 至 10 µm nm颗粒的粒度和 zeta 电位。Nicomp DLS 系统的核心是一种专有的高分辨率多模态解卷积算法,它可以分辨接近的双模态分布。更重要的是,它可以将分布的原生峰值与聚集尾部分开,使研究人员能够确定原生群体的大小。在开发材料时,原生群体直接决定了产品的性能,因此这是一个至关重要的参数。Nicomp DLS 仪器采用模块化设计方法。这样就可以根据客户的应用需求对仪器进行半定制。Zeta 电位是颗粒或乳液液滴表面周围电荷密度的测量值。颗粒周围的电荷密度与悬浮液或分散液的稳定性直接相关。数值越高,表示系统越稳定。zeta 电位常用于悬浮液和乳液的配制阶段。研究人员利用原生粒度和 zeta 电位值来开发可提供产品所需特性的体系。
Nicomp 高分辨率多模态算法。
基线调整用于自动聚合补偿。
多种样品池,包括 1 厘米比色皿和 6 毫米培养管,体积小,可离心去除杂质。
时间历程图可直观显示何时收集到足够的散射数据,以确保统计结果的有效性。
囊泡加权 - 为分析单胶束囊泡提供光散射校正。
Nicomp Nano N3000 系统:使用动态光散射 (DLS) 技术对蛋白质、胶体、乳液、纳米颗粒、CMP、喷墨墨水以及纳米技术中使用的其他各种分散体进行粒度分析
Nicomp Nano Z3000 系统:将动态光散射 (DLS) 测定能力与频率和相位分析光散射 (PALS) 模式相结合,用于测量 zeta 电位
产地:美国
粒度范围:0.3 nm- 10 µm
Min浓度:0.1 mg/mL 溶菌酶
Max浓度:40 % w/v
粒度分析类型:高斯(Gaussian)和尼康普(Nicomp)高分辨率多模式,可分割;粒度相差 1.5 倍的峰值(220 和 340 nm)
测量角度:90 ° 标准或 10至175 ° 多角度测角仪,包括高浓度反向散射
探测器:标准 PMT,可选 7 倍增益 APD
光调节:使用中性密度滤光片自动控制光强
温度范围:0 至 90 °C
Zeta 电位分析:频率分析和相位分析光散射 (PALS)
Zeta 电位:± 500 mV(理论值),适用于 0.3 nm至100 µm 的颗粒
电导率:10-5 S/m- 0.2 S/m(仅适用于 Zeta 电位)
Zeta 电位池:标准水性浸渍池,可选有机浸渍池,1 - 2.5 mL 容积
分子量:单角,使用 Mark-Houwink 方程,或使用外部电子表格绘制 Debye 图
制药选项:21 CFR 第 11 部分软件,验证文件
物理尺寸:43 × 61 ×25 cm(宽 17 × 24 × 10 英寸) 厘米
标准重量:28 kg(62 磅),可根据选件进行调整
电源:100 - 120 VAC,60 Hz 或 220 - 240 VAC,50 Hz
蛋白质、纳米颗粒、等电点、脂质体
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